鞭毛を持つ大腸菌
Scanned with a BudgetSensors Tap300Al-G AFM プローブ, 6 umスキャン
Image courtesy of Scott MacLaren, University of Illinois at Urbana-Champaign, USA
高配向熱分解黒鉛 (HOPG) サンプル
Scanned with a BudgetSensors Tap300Al-G AFM プローブ, 1024 nmスキャン
Image courtesy of Albert Lin, Angsnanotek Co., Ltd., Taiwan
スチレン-エチレン-ブチレン-スチレン (SEBS) トリブロック共重合体の位相像
Scanned with a BudgetSensors Tap300Al-G AFM プローブ, 3 umスキャン
Image courtesy of Scott MacLaren, University of Illinois at Urbana-Champaign, USA
アルマイトの多孔質表面
Scanned with a BudgetSensors Tap300Al-G AFM プローブ, 3 umスキャン
Image courtesy of Scott MacLaren, University of Illinois at Urbana-Champaign, USA
Zinc oxide酸化亜鉛ナノ粒子 (20~50nm)
Scanned with a BudgetSensors Tap300Al-G AFM プローブ, 2048, 1024, 512, 256nmスキャン
Image courtesy of Albert Lin, Angsnanotek Co., Ltd., Taiwan
アミロイドファイバー (4~8nm)
Scanned with a BudgetSensors Tap300Al-G AFM プローブ, 1024nm から256 nmスキャンまで拡大
Image courtesy of Albert Lin, Angsnanotek Co., Ltd., Taiwan
ブレンドされた2つの生体高分子と相溶化剤
Scanned with a BudgetSensors Tap300Al-G AFMプローブ 2 umスキャン
Image courtesy of Nagoya Municipal Industrial Research Institute Japan
ポリオキシメチレン (POM) のらせん転位
Scanned with a BudgetSensors Tap300Al-G AFM プローブ, 3 umスキャン
Image courtesy of Jeff Kalish, University of Illinois at Urbana-Champaign, USA
シリコンドーピング
Scanned with a BudgetSensors ElectriTap300-G AFM プローブ, 8 umスキャン
Image courtesy of Steve Liu, Dual Signal Tech Corp.
磁気 ZIP ディスク表面の表面形状像 (左) と磁気像 (右)
Scanned with a BudgetSensors MagneticMulti75-G AFMプローブ, 60 umスキャン
Image courtesy of Scott MacLaren, University of Illinois at Urbana-Champaign, USA
HDD 記録メディア面の形状像 (左) と磁気力顕微鏡 (MFM) による位相画像 (右)。磁気スキャン上の明るく表示されている領域と暗く表示されている領域は、磁気双極子の向きが異なる領域を示しておりバイナリの 1 と 0 を格納している。
Scanned with a BudgetSensors MagneticMulti75-G AFM プローブ MFMモード, 5 umスキャン
Image courtesy of Dr. Yordan Stefanov, Innovative Solutions Bulgaria
静電力顕微鏡 (EFM) テスト サンプルの金属線に異なるバイアスを印加した。表面形状像 (最初の画像) には 2 本の金属線が示されており、静電力データからバイアスされた線 (左、2 ボルト) とグランドされた線 (右) を区別できる。
Scanned with a BudgetSensors ElectriMulti75-G AFMプローブ EFMモード, 7 umスキャン
Image courtesy of Dr. Yordan Stefanov, Innovative Solutions Bulgaria
ナノパーティクルの形状 (左図) とその3D表示(右図)
Scanned with a BudgetSensors Tap300Al-G AFM プローブ 1024 nmスキャン
Image courtesy of Albert Lin Angsnanotek Co., Ltd., Taiwan
コラーゲンの表面形状
Scanned with a BudgetSensors Tap300Al-G AFM プローブ. 5000, 2000, 1024 , 512 nmスキャン
Image courtesy of Albert Lin, Angsnanotek Co., Ltd., Taiwan
X-174 RF ラムダ DNA
Scanned with a BudgetSensors Tap300Al-G AFM プローブ. 2500, 1000 ,500 nmスキャン
Image courtesy of Albert Lin, Angsnanotek Co., Ltd., Taiwan
部分的に混合され、部分的に硬化した 2 成分エポキシ。形状の3Dデータに位相画像をオーバーレイ
Scanned with a BudgetSensors Tap190Al-G AFM プローブ, 5 umスキャン
Image courtesy of Dr. Yordan Stefanov, Innovative Solutions Bulgaria
ポリスチレン中のさまざまなポルフィリン凝集体のインプリント
Scanned with a BudgetSensors Tap300Al-G AFM プローブ, 5 umスキャン
Image courtesy of Walter Smith, Haverford College, Haverford, USA
ZnO パーティクル (<10nm)
Scanned with a BudgetSensors Tap300Al-G AFM プローブ 1024, 512, 256 , 256nmスキャン
Image courtesy of Albert Lin, Angsnanotek Co., Ltd., Taiwan
多結晶Pb(Zr0.3Ti0.7)O3 薄膜の表面形状 (左), PFM アンプリチュード (中央) PFM 位相 (右)
Scanned with a BudgetSensors ElectriMulti75-G AFM プローブ ピエゾレスポンス顕微鏡 (PFM) モード, 1um スキャン
Image courtesy of Prof. Yunseok Kim Sungkyunkwan University, South Korea
SrTiO3単結晶基板の表面形状像とその３D表示
Scanned with a BudgetSensors ContAl-G AFMプローブ コンタクトモード 5umスキャン
Image courtesy of Prof. Yunseok Kim Sungkyunkwan University, South Korea
二軸延伸ポリプロピレン (BOPP)の表面形状
Scanned with a BudgetSensors Tap300Al-G AFM プローブ 3 umスキャン
Image courtesy of Scott MacLaren, University of Illinois at Urbana-Champaign, USA
Scanned with a MikroMasch HQ:NSC19/Al BS AFM プローブ, 1200 nmスキャン
Image courtesy of Dr. Penka Terziyska, Innovative Solutions Bulgaria
Scanned with a MikroMasch HQ:NSC14/Al BS AFM プローブ, 20umスキャン
Image courtesy of Dr. Penka Terziyska, Innovative Solutions Bulgaria
樹状成長した白金ナノクラスター
Scanned with a BudgetSensors Tap300Al-G AFM プローブ, 7 umスキャン
Image courtesy of Scott MacLaren, University of Illinois at Urbana-Champaign, USA
原子層堆積法によりシリコン基板上に堆積された ZnO レイヤー 。サンプルご提供： Dr. B. Blagoev, Institute of Solid State Physics – Bulgarian Academy of Sciences.
Scanned with a MikroMasch HQ:NSC15/Al BS AFM probe, 2 micron scan size
Image courtesy of Dr. Penka Terziyska, Innovative Solutions Bulgaria
多結晶SrTiO3 単結晶基板の表面形状とその３D表示
Scanned with a BudgetSensors ContAl-G AFM プローブ コンタクトモード 5umスキャン
Image courtesy of Prof. Yunseok Kim, Sungkyunkwan University, South Korea
非接触 AFM モードのケルビンプローブ -5 Hz の周波数シフトで、チタン酸ストロンチウム (SrTiO3) 上の剥離したグラフェンを測定した例。グラフェンにキセノン 23+ イオンを 6°の斜入射で照射した。単層では、イオンの影響により特徴的な折り畳みが生じる。バイアスイメージでは、この領域の露出した下層の基板がはっきりと観察できる。また、モノレイヤ―部は、複層部よりも SrTiO3 に対する表面電位差が低くなります。
Scanned with a BudgetSensors ElectriTap300-G AFM probe on a RHK Technology SPM 1000 Control System
Image courtesy of Benedict Kleine Bussmann, Oliver Ochedowski, Marika Schleberger AG Schleberger, University Duisburg-Essen
窒化クロム粒子
Scanned with a BudgetSensors Tap300Al-G AFM プローブ, 2 umスキャン
Image courtesy of Scott MacLaren, University of Illinois at Urbana-Champaign, USA
触媒粒子の列から延びるカーボンナノチューブ
Scanned with a BudgetSensors Tap300Al-G AFM プローブ, 5 umスキャン
Image courtesy of Scott MacLaren, University of Illinois at Urbana-Champaign, USA
速乾性の白糊
Scanned with a BudgetSensors Tap300Al-G AFM プローブ, アンプリチュード像 10umスキャン
Image courtesy of Scott MacLaren, University of Illinois at Urbana-Champaign, USA
ガチョウの羽根ペンの表面形状
Scanned with a BudgetSensors Tap300Al-G AFMプローブ, 10 umスキャン
Image courtesy of Scott MacLaren, University of Illinois at Urbana-Champaign, USA
500GBハードディスクの磁気力像
Scanned with a BudgetSensors MagneticMulti75-G AFM プローブ, 10 umスキャン
Image courtesy of Scott MacLaren, University of Illinois at Urbana-Champaign, USA
HDI ポリマーの樹状成長
Scanned with a BudgetSensors Tap300Al-G AFM プローブ20 umスキャン
Image courtesy of Scott MacLaren, University of Illinois at Urbana-Champaign, USA
光沢紙の表面形状
Scanned with a BudgetSensors Tap300Al-G AFM プローブ, 3 umスキャン
Image courtesy of Scott MacLaren, University of Illinois at Urbana-Champaign, USA
ポリスチレンフォームの表面形状
Scanned with a BudgetSensors Tap300Al-G AFM プローブ, 30 umスキャン
Image courtesy of Scott MacLaren, University of Illinois at Urbana-Champaign, USA
ゴマの表面
Scanned with a BudgetSensors Tap300Al-G AFM プローブ 90umスキャン
Image courtesy of Scott MacLaren, University of Illinois at Urbana-Champaign, USA
